學術干貨|真誠帶你學習XRD基本理論及物相分析
來源:材料牛網
自從1912年勞埃等人根據理論預見,并用實驗證實了X射線與晶體相遇時能發生衍射現象,證明了X射線具有電磁波的性質,成為X射線衍射學的第一個里程碑。1912年德國物理學家勞厄(M.von Laue)提出一個重要的科學預見:晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即當一束X射線通過晶體時將發生衍射,衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強,在其他方向上減弱。從而開啟了X射線衍射學的林蔭大道。
什么是XRD?
XRD 即X-ray diffraction 的縮寫,X射線衍射,通過對材料進行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。
XRD的基本原理
X-射線的產生是由在X-射線管(真空度10-4Pa)中有30-60KV的加速電子流,沖擊金屬(如純Cu或Mo)靶面產生。常用的射線是MoKα射線,包括Kα1和Kα2兩種射線(強度2:1),波長為71.073pm。
衍射,假如對于一維晶體而言。
其中:光程差:Δ = acosθa0 +acosθa
一束相鄰光程差Δ為λ/2的散射光疊加示意圖
一束相鄰光程差Δ為λ/8的散射光疊加示意圖
即:acosθa0 + acosθa = hλ
這就是一維結構的衍射原理。據此可推導出適用于真實的晶體三維Laue方程:
acosθa0 + acosθa = hλ
bcosθb0 + bcosθb =kλ
ccosθc0 + ccosθc = lλ
Laue方程是產生衍射的嚴格條件,滿足就會產生衍射,形成衍射點(reflectin ),Laue方程中,λ 的系數hkl 稱做衍射指標,它們必須為整數,與晶面指標(hkl)的區別是,可以不互質。衍射點是分立、不連續的,只在某些方向出現。
整個平面點陣族對X-射線的散射
射到兩個相鄰平面(如圖1 和2)的X-射線的光程差:
Δ = MB + NB
而 MB = NB = dsinθ
根據衍射條件得--Bragg方程:
2dhklsinθ = nλ
對于每一套指標為hkl、間隔為d的晶格平面,其衍射角和衍射級數n直接對應, 不同n值對應的衍射點可以看成晶面距離不同的晶面的衍射,例如,hkl晶面在n=2時的衍射和2h2k2l晶面在n=1時的衍射點等同。這樣Bragg方程可以簡化重排成下式,這樣每個衍射點可以唯一地用一個hkl來標記:
當dmin = λ/2sinθmax時,得到最大的分辨率。
MoKα射線,最大分辨率是36pm,當θmax等于20、22、25、30度時的分辨率分別為:104、95、84、71pm。
XRD物像分析
物相檢索也就是“物相定性分析”。它的基本原理是基于以下三條原則:(1)任何一種物相都有其特征的衍射譜;(2)任何兩種物相的衍射譜不可能完全相同;(3)多相樣品的衍射峰是各物相的機械疊加。
隨著XRD標準數據庫的日益完善,XRD物相分析變得越來越簡單,目前最常見的操作方式是將樣品的XRD譜圖與標準譜圖進行對比來確定樣品的物相組成。XRD標準數據庫包括JCPDS(即PDF卡片),ICSD,CCDC等,分析XRD譜圖的軟件包括Jade,Xpert Highscore等,這里推薦使用Jade。
對于Jade軟件的一些基本概念和基本操作,有興趣的同學可以進入Jade軟件的網站主頁深入了解。在此,就不做介紹了。本文將做一些入門級別的介紹。
打開一個圖譜,不作任何處理,鼠標右鍵點擊“S/M”按鈕, 打開檢索條件設置對話框, 去掉“Use chemistry filter”選項的對號,同時選擇多種PDF子庫,檢索對象選擇為主相( S/M Focus on Major Phases) 再點擊“ OK” 按鈕, 進入“ Search/Match Display” 窗口。
下圖所示,是Al樣品XRD譜圖在Jade軟件中的search/Match操作。
“Search/Match Display”窗口分為三塊,最上面是全譜顯示窗口,可以觀察全部 PDF 卡片的衍射線與測量譜的匹配情況,中間是放大窗口,可觀察局部匹配的細節,通過右邊的按鈕可調整放大窗口的顯示范圍和放大比例,以便觀察得更加清楚。窗口的最下面是檢索列表,從上至下列出最可能的 100 種物相, 一般按“FOM”由小到大的順序排列,FOM是匹配率的倒數。數值越小,表示匹配性越高。
在這個窗口中,鼠標所指的PDF卡片行顯示的標準譜線是藍色,已選定物相的標準譜線為其它顏色,會自動更換顏色,以保證當前所指物相譜線的顏色一定為藍色。在列表右邊的按鈕中,上下雙向箭頭用來調整標準線的高度,左右雙向箭頭則可調整標準線的左右位置,這個功能在固溶體合金的物相分析中很有用,因為固溶體的晶胞參數與標準卡片的譜線對比總有偏移(固為固溶原子的半徑與溶質原子半徑不同,造成晶格畸變)。物相檢定完成,關閉這個窗口返回到主窗口中。
限定條件主要是限定樣品中存在的“元素”或化學成分,在“Use chemistry filter”選項前加上對號,進入到一個元素周期表對話框。將樣品中可能存在的元素全部輸入, 點擊“OK”, 返回到前一對話框界面,此時可選擇檢索。
對象為次要相或微量相( S/M Focus on Minor Phases 或 S/M Focus on Trace Phases)。其它下面的操作就完全相同了。
計算晶粒大小
如果樣品為退火粉末,則無應變存在,衍射線的寬化完全由晶粒比常規樣品的小而產生。這時可用謝樂方程來計算晶粒的大小。
式中Size表示晶塊尺寸(nm),K為常數, 一般取K=1,λ是X射線的波長(nm), FW(S)是試樣寬化(Rad),θ則是衍射角(Rad)。這個半高處的高度有個專門名詞, 稱為“半高寬”,英文寫法是FWHM。
在Jade軟件中直接集成了采用半峰寬來計算樣品的晶粒尺寸這一功能,比較方便。要想使用該功能,首先必須在Edit-->Preferences-->Report里面勾上,Estimate Crystallite Size from FWHM Values.如下圖所示:
勾上之后就可以很方便的進行粒徑分析了,如下圖所示,采用Edit Toolbar中的積分按鈕,在主峰下拉取基線,會自動彈出窗口,里面包含晶粒尺寸信息。注意,這里算出來的是平均尺寸,且使用范圍為3-200 nm.
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