2016 LED失效分析與封裝技術專題研討會
一場足以改變產品良率的研討會
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| 主辦單位 | 協辦單位 | 贊助單位 | 媒體支持 |
LED失效可能發生在產品生命周期的各個階段，產品設計、原材料、工藝篩選、可靠性試驗、現場使用都可能發生失效現象，因此，深刻理解LED失效分析對產品的生產和使用意義非凡。
為了更好的服務LED行業客戶，創造一個長期穩定的交流平臺，便于企業溝通學習，同時分享美信檢測于日常工作中積累的經典案例，幫助客戶解決LED產品工藝、技術、測試等各種影響產品品質的問題，美信檢測將于9月23日在深圳·恒豐海悅國際酒店舉辦2016LED失效分析與封裝技術專題研討會，廣邀LED企業專業人士參加。
時間地址
| 時間： | 2016年9月23日 |
| 地點： | 深圳市美信檢測技術股份有限公司 深圳市寶安區石巖鎮松白路石巖湖北大方正科技園A3棟一樓 |
課題安排
| 13:30-14:00 | 簽到 |
| 14:00-14:50 | LED產品失效分析技術與案例分享 1. LED失效分析簡介 2. 固晶和互連不良引起的失效 3. 塑封不良引起的失效 4. 芯片、封裝及應用過程中物料不良引起的LED失效 |
| 14:50-15:05 | 茶歇 |
| 15:05-15:55 | LED燈具結溫測試方法及熱特性分析 1. LED燈具散熱性能的評價方法 2. 電學法實現結構熱阻測量的基本原理 3. 不同電氣連接條件下等效K系數研究 4. LED結構熱阻模型的應用 |
| 會議結束后 | 參觀實驗室 |
講師介紹
王君兆
美信檢測 研發經理
中國機械工程學會失效分析分會失效分析專家
IPC China Apex 4-14 CN工作組專家
在電子封裝、組裝領域有多年的產品研發、工藝開發經驗，并于國外核心期刊《Journal of Materials Processing Technology》發表多篇論文。
張東旭
深圳市新則興科技有限公司 產品應用高級工程師
章銳華
美信檢測 研發中心 失效分析專家
在LED光學設計方面擁有非常豐富的實踐經驗與理論基礎，曾在第四屆LED照明光學技術研討會會議文集發表專業論文，并已申請多個專利。
| 專利： | 一種照明及設備控制、終端，專利號：ZL 2014 2 0423354.2； 一種芯片級白光LED，專利號：ZL 2014 2 0423870.5。 |
擬邀企業
| 美的 | 創維 | 佳光電子 | 創顯光電 | 雷曼光電 | 邁銳光電 | 艾比森光電 | 利亞德光電 |
| 瑞豐光電 | 奧拓電子 | 晶臺光電 | Flextronics | Microsoft | Philips | 等等 |
研討會福利
本次研討會全程免費，請攜帶名片參加。名額有限，欲報從速！憑此邀請函可至現場免費領取一份《美信檢測2016案例庫》。
立即報名
報名已截止，感謝您的參與。
會議咨詢
李蒙：0755-36606307
*** 結束 ***
MTT（美信檢測）是一家從事材料及零部件品質檢驗、鑒定、認證及失效分析服務的第三方實驗室，網址：www.d374.com，聯系電話：400-850-4050。
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