微觀電子工藝不斷發(fā)展，對電子材料與零部件產(chǎn)品的可靠性提出了新的要求，如何提升產(chǎn)品的可靠性成為企業(yè)極度關(guān)注的焦點。產(chǎn)品失效是發(fā)生在產(chǎn)品壽命周期的各個階段，對裝備或元器件在使用過程中發(fā)生的各種形式失效現(xiàn)象的特征及規(guī)律進行分析研究，有利于提高產(chǎn)品質(zhì)量，在技術(shù)開發(fā)、改進，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。

 

美信檢測自2015年以來，每年均舉辦一場大型的電子制造相關(guān)的技術(shù)研討會，場場盛況，與會嘉賓代表300+！本次12月28日的年終盛會，核心議題圍繞電子組裝、電子元器件的失效分析，先進材料的表征方法，器件質(zhì)量評估，UL認證的全面解析和顯微分析等共7個方面的課題內(nèi)容展開。美信檢測將與企業(yè)一起共探行業(yè)發(fā)展前景！為企業(yè)的創(chuàng)新研發(fā)指明方向！

 

組織機構(gòu)

主辦單位：

支持單位：

 

大會議程

◆9：00—9：50   切片技術(shù)在電子產(chǎn)品質(zhì)量評價中的應(yīng)用

 

課題大綱：

1.微電子的高精細切片制作流程講解

2.印制線路板的檢驗及案例分享

3.電子組件的檢驗及案例分享

4.LCD屏的檢驗及案例分享

 

簡介：切片技術(shù)在關(guān)鍵工序的質(zhì)量控制中發(fā)揮著越來越大的作用，本次課題主要從印制線路板的檢驗、電子組件的檢驗、LCD屏的檢驗等方面展開分析，通過相關(guān)的案例講解，幫助企業(yè)深入了解切片技術(shù)在電子產(chǎn)品質(zhì)量評價中的應(yīng)用。

 

◆9：50—10：30   現(xiàn)貨購買物料風險評估與攔截 

課題大綱：

1.現(xiàn)貨物料的詮釋

2.現(xiàn)貨物料的風險

3.超期物料風險評估

4.器件真?zhèn)舞b定

5.真?zhèn)舞b定與DPA關(guān)系

 

簡介：現(xiàn)貨市場購買物料一般存在以下幾個風險問題：1、物料缺貨，原廠無法提供，只能從現(xiàn)貨市場購買，購買價格高；2、很多是超期物料，存放時間較長，性能可能會退化；3、如果供應(yīng)商存放環(huán)境管控不好，會存在嚴重受潮，焊點腐蝕情況，影響后期的焊接加工質(zhì)量；4、存在假貨的風險。如何對這些風險進行規(guī)避？如何選購到符合質(zhì)量要求的器件產(chǎn)品？這些我們都將進行深入解析。

 

◆10：30—10：50       茶歇

◆10：50—11：30   工業(yè)CT在電子產(chǎn)品中的應(yīng)用

 

課題大綱：

4. 高精度CT技術(shù)原理與應(yīng)用介紹

5.CT掃描技術(shù)在電子領(lǐng)域中的應(yīng)用

6.CT掃描典型應(yīng)用案例深度剖析

簡介: CT掃描作為一種無損檢測手段，可在不破壞電子元組件的情況下，不受周圍細節(jié)特征的遮擋，直接檢測獲得其內(nèi)部的結(jié)構(gòu)、組成、材質(zhì)及缺損狀況。通過介紹CT技術(shù)在電子組件相關(guān)產(chǎn)品的應(yīng)用，并對典型案例進行剖析，幫助企業(yè)深入了解CT掃描技術(shù)在優(yōu)化產(chǎn)品制作工藝，降低成本，提高產(chǎn)品壽命，提升產(chǎn)品性能等方面的作用！

 

◆13：30—14：10  顯微分析在電子行業(yè)的應(yīng)用介紹 

課題大綱：

4.電鏡的原理介紹；

5.電鏡在電子相關(guān)領(lǐng)域技術(shù)介紹；

6.常用的應(yīng)用領(lǐng)域介紹及展望

 

簡介：介紹了電子顯微的原理和電鏡的結(jié)構(gòu)及特點，從電子行業(yè)及相關(guān)領(lǐng)域的應(yīng)用方向為出發(fā)點，講解了從外觀形貌到內(nèi)部結(jié)構(gòu)解析，以及元素分析的新應(yīng)用，對產(chǎn)品的失效分析提供了較全面的解決方案，最后對顯微分析的未來發(fā)展進行了展望。

 

◆14：10—14：50   基于失效物理的可靠性提升

課題大綱：

5.傳統(tǒng)可靠性技術(shù)體系概述及存在問題

6.基于失效物理的可靠性技術(shù)體系概述、意義及思路

7.失效物理在電子組裝質(zhì)量優(yōu)化中的作用及應(yīng)對對策

8.相關(guān)典型案例的分享與解析

 

簡介：失效物理（failure physics）研究產(chǎn)品在各種應(yīng)力下發(fā)生失效的內(nèi)在原因及其機理的科學(xué)，又稱可靠性物理。相較于傳統(tǒng)可靠性技術(shù)而言，對失效物理可靠性技術(shù)相關(guān)體系、思路和方法進行闡釋，并通過典型的案例熟悉該可靠性技術(shù)的實際應(yīng)用，有利于更好的針對產(chǎn)品失效問題進行分析，獲得根本原因并解決。

 

◆14：50—15：10       茶歇

◆15：10—15：50   FPC常見電子元器件典型失效研討

課題大綱：

6.失效分析的作用

7.MLCC貼片電容的典型失效

8.貼片電阻的典型失效

9.WLCSP芯片的典型失效

10.模組的典型失效

 

簡介：對FPC常見電子元器件的失效進行了分別的介紹和分析，如：MLCC貼片電容、貼片電阻、WLCSP芯片、模組等，而后對半導(dǎo)體器件（分立器件 、IC）的失效機理進行了講解，并針對性的精選典型案例，進行分享和剖析。

 

◆15：50—16：30   先進材料表征技術(shù)——表面成分分析方法XPS, AES, TOF-SIMS的技術(shù)能力和特點以及在材料表征中的應(yīng)用

課題大綱：

4.X射線光電子能譜儀（XPS）的基本原理和主要應(yīng)用

5.俄歇電子能譜儀(AES)的基本原理和主要應(yīng)用

6.飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)的基本原理和主要應(yīng)用

 

簡介：針對先進材料表征技術(shù)方法中的表面成分分析技術(shù)進行了全面介紹，從X射線光電子能譜儀（XPS）、俄歇電子能譜儀(AES)、飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)的基本原理和實際應(yīng)用進行講解，并列舉案例深度分析，更為清晰的了解該技術(shù)。

講師介紹

劉強 美信檢測技術(shù)專家	崔風洲 失效分析 技術(shù)專家 美信咨詢副總經(jīng)理	樊申騰 美信檢測 CT掃描技術(shù)專家

劉勤 文天美(中國)科學(xué)儀器技術(shù) 專家/博士	王君兆 失效分析 技術(shù)專家 美信咨詢總經(jīng)理	魯?shù)馒P PHI-China分析技術(shù)資深顧問

 

會議詳情

時間：2018年12月28日  9：00-17：00

      早上8點開始簽到

地點：寶安恒豐海悅酒店  V1廳

     （深圳市寶安區(qū)寶民一路115號）

 

免費報名方式

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注：

1.由于場地原因，本次會議的午餐、住宿自行安排，費用自理。

2.酒店訂房可聯(lián)系酒店負責人（電話：13760196511），訂房有會期的協(xié)議優(yōu)惠價格，報“美信檢測”名稱即可。

 

最后，想說一點心里話

美信檢測到今年已經(jīng)6歲啦，這一路上的成長離不開所有人的陪伴、鞭策和鼓勵。很感謝有各種各樣的聲音在時刻圍繞著我們，澆灌我們成長！

我們知道，因為在乎，才有了這些言語。

讓我們，

在迷茫、沮喪時，不至于喪失信心；

在喜悅、驕傲時，仍不忘謙以律己。

今天，其實也想聽你們說說心里話。近年來，美信檢測做培訓(xùn)會議已經(jīng)很多場了，一路的摸索和探尋，這其中的進步和提升，最大的動力都是源于你們的評價！

在微信文末處留言，內(nèi)容關(guān)于：

對往屆會議的評價或本屆會議想說的（課題、案例、講師、服務(wù)……）

留言獲贊滿15個的朋友，我們有一個簡單的小回饋、小心意——“一支筆的質(zhì)量之旅”小米簽字筆，希望大家不吝賜教呀！（會議當天簽到處領(lǐng)取哦~）

 

會務(wù)聯(lián)系

劉久銘：13392891259（同微信）    陳嵐清：16675534219（同微信）

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