先進材料表征技術

先進材料表征技術就是利用電子、光子、離子、原子、強電場、熱能等與固體表面的相互作用，測量從表面散射或發射的電子、光子、離子、原子、分子的能譜、光譜、質譜、空間分布或衍射圖像，表征材料表面微觀形貌、表面粗糙度、表面微區成分、表面組織結構、表面相結構、表面鍍層結構及成分等相關參數。

常用檢測技術

X射線能譜分析（EDS）、俄歇電子能譜分析（AES）、X射線光電子能譜分析（XPS）、動態二次離子質譜分析（D-SIMS）、飛行時間二次離子質譜分析（TOF-SIMS）、聚焦離子束分析（FIB）、離子研磨拋光（CP）等技術。

您對上述檢測技術是否了解呢？遇到相關技術問題該如何解決呢？例如：

如何表征材料的形貌、機構、成分組成等？

如何避免樣品研磨面的應力損傷和污染，以便獲得清晰的樣品斷面形貌，或進行元素定性定量分析？

觀察器件引腳表面直徑大小不一的起泡現象（銅上鍍錫）進行元素定性定量分析，該選用何種檢測分析技術？

鋁板表面鈍化膜中三價鉻與六價鉻的比例，對比不同環境對鈍化膜中鉻的影響是怎樣的？

如何測量金屬樣品表面多層鍍層的厚度以及成分分析？

屏幕組件上的有機污染物分析，推斷污染物來源，改善工藝，怎么做？

……

為了解答大家的疑問，美信檢測實驗室本期（9月20日）的小型技術交流會將分享“生產研發中先進材料表征技術的應用及案例介紹”主題內容，幫助技術人們系統化了解FIB、CP、XPS、AES、TOF-SIMS等技術的原理及應用，以案例剖析的形式貫穿整個課題介紹：

生產研發中先進材料表征技術的應用及案例介紹技術交流會

課題介紹

1、FIB在截面樣品的制備、缺陷位置定點切割觀察方面的應用

2、CP在平滑表面的樣品制備、超硬/超軟樣品的制備等方面的應用

3、XPS在表面成分和化學態分析，污漬和變色的表面分析和涂鍍層深度分析方面的案例分析

4、AES在表面微區成分分析，小面積深度分析和薄膜成分分析的案例分析

5、TOF-SIMS在有機和無機材料表面的微量成分分析，表面異物分析的案例分析

會議詳情

時間：2019年9月20日  13:30-16:00

地點：美信檢測總部（深圳市寶安區北大方正科技園A3棟一樓會議室）

流程安排

報名方式（免費參會）

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②參會通知將提前兩天，以手機短信和致電等形式通知您，請注意查收~

會議咨詢

陳小姐  0755-36606281  

郵箱：[email protected]