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PTH焊點(diǎn)上錫不良 | 電子制造中的關(guān)鍵工藝與不良危害解析

2024-08-19  瀏覽量:270

 

PTH焊點(diǎn)上錫不良 | 電子制造中的關(guān)鍵工藝與不良危害解析

 

 

焊點(diǎn)上錫是電子制造中不可或缺的重要工藝環(huán)節(jié)。在電子元件和電路、電路板焊接過(guò)程中,于焊點(diǎn)上燙上一團(tuán)錫的過(guò)程。這一步驟旨在確保焊接材料與焊點(diǎn)之間形成牢固無(wú)縫的焊接界面,從而提高焊點(diǎn)的機(jī)械強(qiáng)度和導(dǎo)電性能,保證電路板的穩(wěn)定性和可靠性。

 

我們收到從市場(chǎng)退回的PCB板,在波峰焊接后,個(gè)別PTH孔出現(xiàn)上錫不良現(xiàn)象,PCB表面處理方式為OSP。為了精準(zhǔn)判定失效原因,我們將采用專業(yè)且詳盡的檢測(cè)分析方法,查找其失效原因。

 

測(cè)試分析

 

1 外觀檢查

 

利用體視顯微鏡對(duì)PCBA上錫不良通孔焊點(diǎn)及其他通孔焊點(diǎn)進(jìn)行光學(xué)檢查,結(jié)果如圖1所示:

個(gè)別PTH焊點(diǎn)明顯發(fā)現(xiàn)上錫不良現(xiàn)象,表現(xiàn)為通孔無(wú)明顯填錫異常;其他焊點(diǎn),較多位置通孔焊盤疑似存在潤(rùn)濕不良現(xiàn)象,后續(xù)利用切片分析手段進(jìn)一步觀察確認(rèn)。

 

上錫不良PTH焊點(diǎn)光學(xué)檢查照片

圖1. 上錫不良PTH焊點(diǎn)光學(xué)檢查照片

 

2 X-Ray&CT觀察

 

圖2為X-Ray及CT觀察,結(jié)果顯示:①個(gè)別焊點(diǎn)存在無(wú)明顯填錫及填錫高度不足現(xiàn)象;②個(gè)別焊點(diǎn)內(nèi)部存在空洞現(xiàn)象;③失效焊點(diǎn)及未失效焊點(diǎn)均觀察到pin針偏位現(xiàn)象;④失效焊點(diǎn)未見(jiàn)明顯孔破異常。

 

NG1異物紅外分析圖

圖2. NG1異物紅外分析圖

 

3 表面分析

 

用場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡對(duì)失效焊點(diǎn)進(jìn)行形貌觀察和成分分析發(fā)現(xiàn):

失效焊點(diǎn)及未失效焊點(diǎn),通孔拐角位置都發(fā)現(xiàn)異物殘留現(xiàn)象,成分分析結(jié)果顯示,異物位置含有C、O、Br、Si、S、Sn、Ba、Cu元素, O、Br、Sn元素推測(cè)為助焊劑所含元素,C、O、Si、S、Ba元素推測(cè)為綠油殘留所含元素,后續(xù)通過(guò)切片分析進(jìn)一步確認(rèn);失效焊點(diǎn)孔環(huán)表面發(fā)現(xiàn)異常Cl元素。

 

NG 焊點(diǎn)及OK 焊點(diǎn)形貌觀察及成分分析結(jié)果

圖3. NG 焊點(diǎn)及OK 焊點(diǎn)形貌觀察及成分分析結(jié)果

 

4 剖面分析

 

剖面分析結(jié)果顯示:①個(gè)別焊點(diǎn)孔環(huán)表面局部無(wú)明顯焊錫殘留,推測(cè)焊盤表面潤(rùn)濕異常;②孔壁焊接正常位置IMC生成連續(xù),厚度在1.28μm~3.21μm;③失效焊點(diǎn)及未失效焊點(diǎn),通孔拐角潤(rùn)濕不良位置都發(fā)現(xiàn)異物殘留,成分含有C、O、Al、Si、S、Sn、Ba、Cu元素,所含元素與表面分析結(jié)果一致,根據(jù)異物形貌及成分可知,該異物為綠油殘留。

 

NG 焊點(diǎn)及OK 焊點(diǎn)截面形貌觀察及成分分析結(jié)果

圖4. NG 焊點(diǎn)及OK 焊點(diǎn)截面形貌觀察及成分分析結(jié)果

 

5 PCB光板分析

 

光學(xué)觀察:如圖5所示,所有PTH通孔孔環(huán)表面完好,未見(jiàn)明顯異色、刮傷等現(xiàn)象;個(gè)別PTH通孔拐角位置發(fā)現(xiàn)顆粒狀異物殘留。

SEM+EDS觀察:如圖6所示,所有PTH通孔孔環(huán)表面形貌異常,成分含有C、N、O、Cl、I、Cu元素,其他Cl、I為異常元素;拐角位置顆粒狀異物含有C、N、O、Cl、Cu元素,Cl為異常元素,顆粒所含元素與PCBA通孔拐角殘留綠油成分存在明顯差異,說(shuō)明該顆粒狀異物并非PCBA通孔焊點(diǎn)所發(fā)現(xiàn)的綠油殘留。

 

PCB光板PTH通孔光學(xué)檢查照片

圖5. PCB光板PTH通孔光學(xué)檢查照片

 

PCB光板PTH通孔孔環(huán)表面形貌觀察及成分分析結(jié)果

圖6. PCB光板PTH通孔孔環(huán)表面形貌觀察及成分分析結(jié)果

 

6 PCB光板上錫性驗(yàn)證

 

對(duì)PCB光板進(jìn)行浸錫試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)個(gè)別PTH孔環(huán)表面發(fā)現(xiàn)局部潤(rùn)濕不良現(xiàn)象,潤(rùn)濕面積小于95%,不滿足IPC標(biāo)準(zhǔn)要求。

 

PCB光板PTH通孔浸錫后光學(xué)觀察典型照片

圖7. PCB光板PTH通孔浸錫后光學(xué)觀察典型照片

 

結(jié)論

 

結(jié)論:

①通孔拐角位置異常綠油殘留,影響了整個(gè)通孔的上錫性;

②PCB光板OSP膜存在異常污染(含有異常Cl、I元素),降低了通孔孔環(huán)及孔壁的潤(rùn)濕能力。

 

建議:

嚴(yán)格管控PCB光板綠油涂覆工藝及OSP膜工藝質(zhì)量,避免通孔拐角綠油殘留及OSP膜污染。

 

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簡(jiǎn)介

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