先進材料表征方法
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背景
近年來,隨著電子設備線路設計日趨復雜,焊料無鉛化的日益嚴格,促使化學鎳金工藝的研究和應用越來越受到重視并取得了新的發展。
作為各種元器件的載體與電路信號傳輸的樞紐,PCB已經成為電子信息產品的最為重要而關鍵的部分,其質量的好壞與可靠性水平決定了整機設備的質量與可靠性。但是由于成本以及技術的原因,PCB在生產和應用過程中出現了大量的失效問題。
對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術,來使得PCB在制造的時候質量和可靠性水平得到一定的保證。
在PCB的分析上,能譜儀可用于表面的成分分析,可焊性不良的焊盤與引線腳表面污染物的元素分析。能譜儀的定量分析的準確度有限,低于0.1%的含量一般不易檢出。能譜與SEM結合使用可以同時獲得表面形貌與成分的信息,這是它們應用廣泛的原因所在。
應用范圍:
PCB、PCBA、FPC等。
測試步驟:
將樣品進行表面鍍鉑金后,放入掃描電子顯微鏡樣品室中,使用15 kV的加速電壓對測試位置進行放大觀察,并用X射線能譜分析儀對樣品進行元素定性半定量分析。
樣品要求:
非磁性或弱磁性,不易潮解且無揮發性的固態樣品,小于8CM*8CM*2CM。
參考標準:
GB/T 17359-2012微束分析 能譜法定量分析
典型圖片:
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